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美国康奈尔大学研究团队首次在原子尺度上直接“看见”了隐藏在先进芯片内部的结构缺陷，并将这些微小的不规则形态形象地称为“鼠咬”（mouse bites），这一成像突破为未来高端芯片的调试和良率提升提供了全新工具。